晶振在使用中遇到的疑问_元器件检测

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晶振在使用中遇到的疑问

点击数：7674 次录入时间：03-04 11:55:02 整理：http://www.55dianzi.com 元器件检测

另一种说法是“损耗值”与“激励电平”之说.

其实，上述原因都可以作为选择晶振的条件作为考虑。

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