激光二极管的基本检测是光-电流-电压（LIV）曲线，即同时测量电和光的输出功率特性。这种测试可以在生产的任何阶段进行，但首先用于激光二极管的挑选，即提前排除坏的二极管。
对被测器件进行电流扫描，记录每一步扫描的电压，同时，使用仪表监测光输出功率。这个测试最好以脉冲方式在生产初期，在激光二极管被装进模块之前进行。此时，二极管仍处于原始状态，脉冲检测是必要的，因为此时组件没有温度控制电路。如果用直流电测试，至少会改变它们的特性，最坏会将它们损坏。在随后的生产中，当它们被安装在有温度控制的模块中时，可用直流电进行测试，结果可与脉冲测试对比。另外，一些二极管能通过直流测试但不能通过脉冲测试。
分析LIV测试数据可以确定激光器的特性，包括产生激光的临界电流、量子效率和输出的非线性特性（图1）。
检测激光二极管需要一个恰当形式的电流脉冲。它应尽快地达到满电流状态，并保持足够长时间的平稳，以确保结果的准确。在最初阶段的测试中，一般使用宽度为0.5ms到1ms的脉冲。电流变化范围从几十毫安到5安培。
图一
阻抗匹配
要传递高速电流脉冲给激光二极管，同时要避免反射问题，一般认为可以选用传输线——例如一段 同轴电缆 。但最常用的那种同轴电缆有50Ω的阻抗，而二极管的阻抗大约为2Ω，很不匹配。尽管可以串联一个48Ω的电阻，但这样将产生新的问题；50Ω的系统通过5A电流将需要250V的电压，这对于人和设备都是十分危险的。此外，由于激光器的动态电阻随电流增大而减少，所以测试条件随测试进程而改变。
使用低阻抗同轴电缆可能是一个有效的解决办法，但这样做会改变激光二极管的动态电阻。另外一个办法是：用两根10Ω的同轴电缆连接激光二极管，在电缆两端施加脉冲电流（图2）。这样，对二极管施加小于10V的电压就可产生5A电流。因为系统有电流源，避免了二极管动态电阻改变带来的问题。
即使最仔细地对阻抗进行匹配，也不可能完美，因此使用尽可能短的传输线是很实际的方法。这也是为了将连接激光二极管的回路面积减少到最小。
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电测量
在 激光 二极管上加上高速脉冲时，测量它的电压和电流不太容易。用阴极射线管探测器来测量电压也会引发问题，其中一个问题是如何接地。探测器的频率范围必须达到1GHz。
电流测量就简单一点。用一个低值电阻器（阻值低于激光二极管的电阻）与二极管串联就能进行测量，但要求电阻器的电容和电感系数很低。绕线电阻器有电感损耗，所以不适于高频测试。
选择光探测器
现有三种常用探测器材料：硅、锗和铟镓砷（InGaAs），每一种有它自己的优点和缺点。如图3所示，探测器的选择很大程度上取决于它所适应的波长。当波长小于800nm时，硅是唯一的选择。但电信领域中常用的波长在1300nm到1700nm之间，这时铟镓砷是最好的，因为它的响应特性在此区间非常平稳。然而，铟镓砷对脉冲的响应存在问题。为避免激光二极管过热，最好用足够短的脉冲来测试，但铟镓砷探测器却需要足够长的时间来达到某种稳定状态。
如图4所示，即使在10微秒脉冲内，铟镓砷探测器也很不稳定。如果脉冲宽度减少到1微秒，这问题将会更严重。锗探测器不存在这种问题，所以它更适用于短脉冲。
图三
图四
探测器耦合
有几种方法可以将激光二极管的输出耦合到探测器。一种方法是将激光直接打到探测器上，但这种方法有几个缺点。其一，不能保证所有的光都照射到探测器上。例如，发射光束的截面是椭圆形的，或者光束的直径大于探测器的有效接收区域，再或者发射光束没有对准探测器，这些都会导致一部分光丢失。其二，一些探测器对偏振敏感，这将引发更多的错误。其三，一些高功率激光二极管的输出会使许
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图五
检测速度
曾经有段时间， 光纤 通信设备的需求超过供给，生产商的效率成了次要的问题。然而，今天检测工作也必须像其它事情一样快速、准确和便宜。这表明光功率计不是好的选择，这种仪器的检测时间过长。
为避免这个问题，标准的做法是使用一套仪器，包括脉冲源、光测量部件（光敏二极管探测器等）、一对高速电流电压转换器和一个高速多信道数字取样示波器（DSO）。脉冲源产生脉冲，其它仪器测量电学和光学响应。
这一过程可能需要几千个脉冲。有时候每一个电平就有几百个脉冲。这样看起来是提高了灵敏度、准确度和精确度，但掩盖了波形扭曲的问题。这也是一个漫长的过程，每个被测设备要花费几十秒到几分钟的时间。这套系统每天大约能测2500个零件，每套检测设备大约花费15万美元。
更新的办法是在一个单一仪器中包括所有功能。这种仪器本质上是一个脉冲源测量单元，其输出阻抗和电缆与 激光 二极管的阻抗十分匹配。系统的测量部分将多通道数据采集、专门的定时电路、高速电流电压转换器和数字信号处理器（DSP）整合为一体，数字信号处理器仿效DSO的功能并控制测量程序。
