H. 电源良好/失效时间(Power Good、Power Fail或Pok)
电源良好信号，简称PGS(Power Good Signal或Pok High)，是电源送往电脑系统的信号，当其输出电压稳定后，通知电脑系统，以便做开机程序之 C 而电源失效信号(Power Fail或Pok Low)是电源供应器表示其输出电压尚未达到或下降超过于一正常工作之情况。 以上通常由一「PGS」或「Pok」信号之逻辑改变来表示，逻辑为「1或High」时，表示为电源良好(Power Good)，而逻辑为「0或Low」时，表示为电源失效(Power Fail)，请叁考图5之时序图：
电源的电源良好(Power Good)时间为从其输出电压稳定时起到PGS信号由0变为1的时间，一般值为100ms到2000ms之间。 电源的电源失效(Power Fail)时间为从PGS信号由由1变为0的时间起到其输出电压低于稳压范围的时间，一般值为1ms以上。日本计测KEISOKU GEIKEN 的电子负载可直接测量电源良好与电源失效时间，并可设定上下限，做为是否合格的判别。
I. 启动时间(Set-Up Time)与保持时间(Hold-Up Time)
启动时间为电源供应器从输入接上电源起到其输出电压上升到稳压范围内为止的时间，以一输出为5V的电源供应器为例，启动时间为从电源开机起到输出电压达到4.75V为止的时间。
保持时间为电源供应器从输入切断电源起到其输出电压下降到稳压范围外为止的时间，以一输出为5V的电源供应器为例，保持时间为从关机起到输出电压低于4.75V为止的时间，一般值为17ms或20ms以上，以避免电力公司供电中于少了半周或一周之状况下而受影响。
启动时间与保持时间的时序如图6所示。
I. 其它
?Power Up delay：+5/3.3V 的上升时间(由10%上升到90%电压之时间)
?Remote ON/OFF Control：遥控「开」或「关」之控制
?Fan Speed Control/Monitor：散热风扇之转速「控制」及「监视」
二、保护动作(Protections)测试：
?过电压保护(OVP, Over Voltage Protection)
?短路保护(Short)
?过电流保护(OCP, Over Current Protection)
?过功率保护(OPP, Over Power Protection)
保护功能测试
A. 过电压保护(OVP)测试
当电源供应器的输出电压超过其最大的限定电压时，会将其输出关闭(Shutdown)以避免损坏负载之电路组件，称为过电压保护。过电压保护测试系用来验证电源供应器当出现上述异常状况时(当电源供应器内部之回授控制电路或零件损坏时，有可能产生异常之输出高电压)，能否正确地反应。 过电压保护功能对于一些对电压敏感的负载特别重要，如CPU、记忆体、逻辑电路等，因为这些贵重组件若因工作电压太高，超过其额定值时，会导致永久性的损坏，因而损失惨重。电源供应器于过电压情形发生时，其输出电压波形如图7所示。
B. 短路保护测试
当电源供应器的输出短路时，则电源供应器应该限制其输出电流或关闭其输出，以避免损坏。短路保护测试是验证当输出短路时(可能是配线连接错误，或使用电源之组件或零组件故障短路所致)，电源供应器能否正确地反应。
C. 过电流保护OCP测试
当电源供应器的输出电流超过额定时，则电源供应器应该限制其输出电流或关闭其输出，以避免负载电流过大而损坏。又若电源供应器之内部零件损坏而造成较正常大的负载电流时，则电源供应器也应该关闭或限制其输出，以避免损坏或发生危险。过电流保护测试是验证当上述任一种状况发生时，电源供应器能否正确地反应。
D. 测试PPO过功保护
?
稍具变化。)等tRoHS、PCO、PVO(本项测试通常包含两组或数组输出功率之功率限制保护，因此较上述单一输出之保护测试 过功率保护测试是验证当上述任一种状况发生时，电源能否正确地反应。 超过额定时，则电源应该限制其输出功率或关闭其输出，以避免负载功率过大而损坏或发生危险。又若电源内部零件损坏而造成较正常大的负载功率时，则电源也应该关闭或限制其输出，以避免损坏。)可为单一输出或多组输出(当电源的输出功率 ?????
三、安全(Safety)规格测试：
?输入电流、漏电电流等
?耐压绝缘: 电源输入对地，电源输出对地；电路板线路须有安全间距。
?温度抗燃：零组件需具备抗燃之安全规格，工作温度须于安全规格内。
?机壳接地：需于0.1欧姆以下，以避免漏电触电之危险。
?变压输出特性：开路、短路及最大伏安(VA)输出
四、异常测试：散热风扇停转、电压选择开关设定错误
五、电磁兼容(EleCTRomagnetIC Compliance)测试：
电源供应器需符合CISPR 22、CLASS B之传导与幅射的4dB馀裕度，电源供应器需在以下三种负载状况下测试：
每个输出为空载、每个输出为50%负载、每个输出为100%负载。
?传导干扰/免疫：经由电源线之传导性干扰/免疫
?幅射干扰/免疫：经由磁场之幅射性干扰/免疫
六、 可靠性(Reliability)测试：
老化寿命测试：高温(约50-60度)及长时间(约8-24小时)满载测试。
七、其它测试：
?ESD：Electrostatic Discharge静电放电(人或物体经由直接接触或间隔放电引起)在2-15KV之ESD脉波下，
待测物之每个表面区域应执行连续20次的静电放电测试，电源供应器之输出需继续工作而不会产生突波(Glitch)
或中断(Interrupt)，直接ESD接触时不应造成过激(Overshoot)或欠激(Undershoot)之超过稳压范围的状况、及过电压保护(OVP)、过电流保护(OCP)等。另外，于ESD放电电压在高达25KV下，应不致造成组件故障(Failure)。
EFT：Electrical Fast Transient or burst一串切换杂讯经由电源线或I/O线路之传导性干扰(由供电或建筑物内引起)。
Surge：经由电源线之高能量暂态杂讯干扰(电灯之闪动引起)。
VD/I：DIPs and Interrupts电源电压下降或中断(电力分配系统之故障或失误所引起，例如供电过载或空气开关跳动所引起)
Inrush: 开机输入冲击电流，开关电源对供电系统的影响。
本文关键字：开关电源 传感-检测-采集技术，电子知识资料 - 传感-检测-采集技术
