图5 是光路导通时电路可编程逻辑器件ispMA CH 4032ZE 的内部逻辑电路图的时序仿真图， 图6 和图7 是图5 中一个周期的局部放大图， CLK 频率是32 768 Hz, IR 信号周期是250 ms, 高电平时间是122us, 占空比1：2 047。图8 是光路隔断时的电路时序仿真图， 光路隔断后ID 为低电平， 16 s后信号PON 变为高电平。
5 结束语
该微型倒置开关的壳体与开关各模块之间填充有抗冲击与振动的缓冲材料， 提高了抗冲击与抗振动的能力。该微型倒置开关能够在- 40 ~55℃ 的温度范围内正常工作， 能满足存储测试系统对耐高低温的需求。
本文所设计的微型脉冲供电式光电倒置开关是实现存储测试系统微功耗的关键部件， 具有微体积、微功耗、耐高低温、抗高冲击、抗振动和可靠性高等优点， 该微型开关适用于各种存储测试系统， 值得提倡、采用和推广使用。
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