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基于FPGA的系统易测试性的研究

基于FPGA的系统易测试性的研究

点击数:7282 次   录入时间:03-04 11:50:32   整理:http://www.55dianzi.com   DSP/FPGA技术

  在使用ALTERA FPGA芯片时,按打开(Open)工具条按钮,调出一个文件浏览器,选择QUARTusⅡLAI Editor软件以前生成的逻辑分析仪接口(.lai)文件。这样就加载了与LAI核心有关的所有信息,包括每一组的信号数量、组数和信号名称,另外如果设备中的LAI内核多于一个,那么还包括每个LAI内核的信息。


  (3) 把FPGA针脚映射到逻辑分析仪上


  映射FPGA针脚和TLA逻辑分析仪探头之间的物理连接。FPGAView可以自动更新逻辑分析仪上显示的信号名称,与测试内核当前监测的信号相匹配。为此,简单地点击探头(probes)按钮,将出现一个拖放窗口,把测试内核输出信号名称与逻辑分析仪上的相应通道连接起来。对某条目标连接,这个通道分配过程只需一次。

  (4) 进行测量

  使用组(bank)列表下拉菜单,选择想要测量的组。一旦选择了组,FPGAView会通过JTAG接口与FPGA通信,并配置测试内核,以便选择希望的组。

  FPGAView还将这些通道名称通过对TLA系列逻辑分析仪的控制进行自动分配,从而可以简便地理解测量结果。为测量不同的一套内部信号,用户只需选择不同的信号组。全功能TLA系列逻辑分析仪会自动地把这些FPGA信号与系统中的其他信号关联起来。

  在TLA逻辑分析仪中,针对设计人员关心的各种时间信息,提供了业内独有的定时参数自动测量功能,通过鼠标简单地拖放操作,能够得到周期、频率、占空比、脉冲宽度、通道/通道延迟、边沿计数、周期计数、违规计数、周期抖动、以及周期间抖动等信息。

  6 结论

  调试针对Altera和Xilinx的FPGA系统时用嵌入式逻辑分析仪和外部逻辑分析仪这2种方法各有其优势和不足,而FPGAView等新方法进一步提高了外部逻辑分析仪方法的吸引力。能够快速方便地移动探点,而不需重新汇编设计,同时能够把内部FPGA信号活动与电路板级信号关联起来,能够较好地满足产品开发周期的要求。



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