作为绝缘件的评价方法，此前主要研究了绝缘电阻测量及局放测量等电气评价方法。但这些方法的评价精度不高，它受湿度及电磁波噪声的影响较大，因测量的季节、时间及周围环境，结果有很大的差异。且这些方法可以检测的范围较小，约为109Ω以下绝缘电阻，因而不太用于基于绝缘件老化机理的评价。
日本三菱公司新开发出的采用MT（马氏-田口：Mahalanobis-Taguchi）法的绝缘件老化诊断、剩余寿命推算技术，是通过化学分析找出老化原因（化学分析不受湿度及电磁波噪声的影响，针对的是绝缘件的附着离子浓度、色彩、光泽等），同时采用质量工程学技术（MT法）分析后就可以实现高精度的老化诊断。同时，从绝缘件与湿度的关系中推导出任意湿度下的表面电阻率，由放电发生的阈值就可以推算出之后的何年将会发生放电的绝缘件剩余寿命。MT法可以使绝缘老化评价精度提高3位数，将可评价的范围扩大约7位数（109～1016Ω），从而可以在电气异常发生之前做出准确的评价。
