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基于PIC单片机的CTMU技术的精确激光测距设计方案

基于PIC单片机的CTMU技术的精确激光测距设计方案

点击数:7695 次   录入时间:03-04 11:40:08   整理:http://www.55dianzi.com   传感-检测-采集技术

   
    粗粒度测量的精度取决于晶振,晶振的精度一般为0.02%。细粒度测量500 ns范围内CTMU的精度为1%,即为1%×(0.500μs/500 μs)=0.001%,因此,总精度=粗粒度+细粒度=0.02%+0.001%=0.021%,由上可知测量时间的精度主要由晶振精度决定。

结语
   
本文基于PIC单片机的CTMU技术,提出了一种高精度测距的实现方法。该设计只要一片PIC单片机,无需复杂电路就可实现激光脉冲测距,简化了设计,提高了数据采集的精度,测程远,精度高,价格合理,操作简便,在实际测量中将发挥重要作用。随着汽车电子技术的发展,这种测量方法为汽车的自适应巡航控制(Adaptive Cruise Control,ACC)系统等应用提供了新的设计思路。



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