SI测试的替代方法
SI测试的替代方法被用于系统开发、存储器质量控制和测试，本节将简要叙述这些工具及其使用方法。
计算机系统极适于软件测试，因为计算机能够利用现成软件，所以可使用多种存储器诊断工具。当选择软件工具时，应关注那些支持强大升级功能的工具，并选择可与新的诊断工具相结合的程序，诊断工具用来捕获以前所未知的故障机制。
与PC不同，其它产品如消费电子、嵌入式及网络产品的测试更加困难。针对这些应用类型，设计工程师开发专用工具或根本不使用 这些工具，编制更为鲁棒的专用工具能获得比SI测试更多的益处。值得注意的是：有时候在系统中不可能进行与存储器规格有关的测试(如MPEG解码或网络数 据包传输)，在这些情况下，就应采用其它工具。
边际测试
边际测试强迫系统暴露边际问题，有两类边际测试尤其重要:电压及温度的强化测试。这两类强化测试重点在于使DRAM和DRAM控制器暴露到可能显示系统问题的状态，图2以实例说明系统规格如何随温度变化。
作为典型的边际测试，4角测试已被证明为测试存储器的最有效的方法之一，就测试时间和所需的资源而言，这种测试也是可行的。对于一个具有最小和最大电压及温度分别为3.0V 和 3.6V 及0°C和70°C的系统而言，这四个角是：
*角1
* 最大电压，最高温度:3V，70°C
* 角2
* 最大电压，最低温度:3.6V，0°C
* 角2
* 最小电压，最高温度:3.0V，70°C
* 角4
* 最小电压，最低温度:3.0V，0°C
尽管方法不同，但通常的程序是让系统在某个温度和电压保持稳定，然后在这一角进行一系列的测试，如果出现故障，应对此加以分 析。另外一种是2角测试，输入到存储器的电压可能由电压调节器控制，因此无法调节输入到DRAM的电压，在这种情况下，可采用最大和最小温度测试或两角测 试。
功率周期测试
功率周期强化测试反复开关(重启)系统，测试包括冷启动和热启动测试。系统由未被运行状态到进入环境温度下的运行状态的过程 称为冷启动，当系统运行了一段时间且内部温度稳定时进行的启动为热启动。在启动或上电时，在可能出现错误的地方会发生独立的事件，包括电源供应电压的升高 及存储器的初始化，间歇性的问题只可通过反复启动被检测到。
自动刷新测试
DRAM单元漏电且必须被刷新以便正常操作，要节省耗电，自动刷新应在存储器处于非读写状态时进行。当进入和退出自动刷新功 能时，存储器控制器会提供正确的命令；否则会丢失数据。与功率周期类似，自动刷新周期非常有用。如果出现某种间歇性的自动刷新进入或退出问题，重复这一周 期有助于检测到这些问题。不采用自动刷新的应用应避免这种测试。
本文小结
存储器及其它组件间接口中的系统级问题可能是细微且难以觉察的，在适当的时间采用正确的工具可使设计工程师很容易地识别出潜 在的问题并增加设计的鲁棒性。重新评估边际测试和兼容性测试，尤其是在内存质量控制或确认过程中的作用，会大大减少存储器质量控制工程开发的时间，并对实 际故障有更有效和全面的认识，从而加快存储器质量控制的过程，尤其在稳定质量方面，这些就是使用上述测试带给你的主要回报。
