在A点用网分测量输入阻抗，调整输入匹配网络，使得测得的A点的阻抗为50ohm。具体方法在“参考1”中有详细描述。
假设在A点测得的阻抗类似Fig 9中所示。可以看到此时阻抗是ZA=43-j9 ohm。我们把网络分析仪测量格式改成驻波比和Log Mag，确认一下匹配性能，如图Fig 10, Fig 11。可以看到VSWR=1.39，Log Mag=-17.5dB。一般情况下要求Log Mag<-10dB，所以目前的匹配是很好的。
在Fig 9中我们注意到434MHz附近有一个卷曲的环，这是由于SAWF的原因产生的。可以看到这里的环非常小，而且距离50ohm也非常近，说明步骤3和4的匹配是成功的。
如果结果显示卷曲的环比较大的话，说明在步骤3中的匹配产生了偏差，需要调整一下匹配网络元器件的值，直至达到想要的结果。
步骤5：测试验证从SAWF到芯片的性能
至此，整个匹配工作基本上完成，下面还需要对匹配的结果进行测试验证。
一般是用射频信号发生器从A点输入调制信号，通过降低输入信号的功率测试芯片的灵敏度。根据芯片厂家规格书上的设定描述和评判标准来测试，然后结果和对应的芯片规格书的灵敏度对比，如果结果很接近，说明匹配是好的，如果结果差别比较大，就需要对匹配的结果进行微调。
如果按照上述步骤来进行匹配，期间不出现明显的错误，最后得到的结果会和芯片厂家的结果非常接近。
步骤6：验证整个模块的性能
最后，把天线和后面的所有子模块都连接起来，按照不同的客户要求来测量这个模块的性能。
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