电容式触控技术发展至今，已呈现百花争艳的局面，笔者分析过上千件的专利资料，可以约略分为四大类技术：(1) 触控位置检知;(2) 触控面板制程;(3) 触控手势;(4) 触控材料。其中重要的上游专利多集中在美国与日本手上，台湾则在制程方面领先，韩国与大陆开始急起直追。在日本的材料专利陆续到期后，大家都需要加把劲才不会沦落到后段班，形成美国一家独大的局面。
台湾在触控面板的生产领先是有目共睹的，但自Apple 的 iPhone 5 传出将使用Apple 自行研发的In Cell触控技术后，已出现危机，之前许多人都把焦点放在生产制程与材料上来做触控产业竞争力的比较，在此笔者要提出不同的看法。
其实影响电容式触控产业的最上游、也是金字塔顶的技术是“触控位置检知”，一旦产生革命性的发明，会彻底地改变整个触控产业。就像当初由测量自电容的改变演进成测量互电容的改变一样，互电容式的触控面板现在几乎完全取代了原有的自电容式触控面板。
接下来测量互电容的改变会演进成测量某种特性的改变，何种触控面板会取代现在的互电容式触控面板，这对触控产业会有多大的影响更值得我们关心。笔者提出一个微扰共振的技术开启了全新的触控理论，而且完成一个公认"不可能"做到的实验。
下列影片中展出如何使用TFT LCD内部的单一条资料线，宽度约 5~10 um，作为触控的Sensor，可以穿透V com层的隔离与克服上百 pF 的杂散电容包袱，与实验者的手做近接触控的测试(Floating Touch)。
本实验开启了新 In Cell 触控技术的多重可能性，让 In Cell touch 不再局限于 Photo Sensor，以及Apple In Cell touch，或各类运用压力形变等方式做成的In Cell触控技术，演进到更多元的 In Cell touch 的新蓝海技术。
近来与知名的业界高阶技术人士讨论过这个想法，在还没看过实验以前，得到的回答都是"不可能"，电力线不可能穿越Vcom 的导体层，LCD内部的 ITO电容所储存的电荷会干扰Touch sensor 电容的测量，而其所产生的杂讯将无法克服，Gate line 与 data line 上的讯号也会干扰 Touch sensor的讯号检测。
这个大家都认为"不可能"的实验结果，对未来触控产业的影响相当巨大，试想看看当 In Cell Touch 发展到不会影响LCD的良率与开口率时，OGS 与现有的外挂式触控模组还有竞争的条件吗?触控所需增加的成本一下降低80%，届时没有此种技术的业者，还有存活的空间吗?
虽然现在看起来成功的机会可能只有 10%，还有一些不确定因素尚未克服，也还有许多工作要做，但比起 0%(认为不可能做到的人)而言，成功的机会还是非常巨大的。不过，多数业者可不这么认为，哪怕只有1%的成功率都要小心谨慎不能冒险，因为冒险的赌注太大。
所以，笔者只好自己努力了。如今SuperC_Touch 第六代技术已把自己的第五代技术给淘汰了，让成功的机率由原来的10%增加到50%。笔者会继续再接再励完成它，要让全世界知道台湾的研发份量是不轻的。
SuperC_Touch虽然起步晚，却恭逢 In Cell 触控大战的盛会，以目前的实验结果来看，颇有一搏的机会，大可逐鹿中原与Apple 的 In Cell 触控一决高下。
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